面阵相机
高NA设计
分辨率可达2.7um
可选同轴,非同轴
半导体芯片缺陷检查
晶圆量测
FTC2.0X-80/C-4K28 | |||
同轴 | Ο | 景深(um) | 56 |
倍率(X) | 2.0X | 远心度(<degree) | 0.04 |
工作距离(mm) | 80 | 光学畸变(%) | 0.04 |
分辨率(um) | 2.7 | 相机传感器尺寸 | 4K7um |
数值孔径(物侧) | 0.125 | 接口 | F |
有效F/# | 8 | I/O(mm) | 307 |
地址:潍坊市高新区高新大厦1319室
邮箱:kevin0727@fresnel-china.com