高倍率远心线扫镜头,半导体缺陷检测,mini,micro led检查
高倍率，高NA设计
自带科勒照明系统
可选同轴，非同轴
半导体检测
新材料缺陷量测
FTC7.5X-10CIA-16K82 | |||
同轴 | Ο | 景深（um） | 5.7 |
倍率(X) | 7.5X | 远心度（<degree） | 0.03 |
工作距离（mm） | 10 | 光学畸变（%） | 0.04 |
分辨率（um） | 1.5 | 相机传感器尺寸 | 16K5um |
数值孔径（物侧） | 0.23 | 接口 | M95 |
有效F/# | 16.3 | I/O（mm） | 553 |
地址：潍坊市高新区高新大厦1319室
邮箱：kevin0727@fresnel-china.com
