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面阵相机

微分干涉(DIC)显微镜

通过将进入LCD面板驱动芯片粘结的过程来检测缺陷; 它用无差别的光线获取导电球的阴影,使其看起来是三维的; 可以在LCD的后键合过程和芯片对准过程中检查压接位置,导电球的密度以及压痕强度的光学系统; 使用线扫描相机和大功率照明测量高达微米级别的导电球压痕; 主要用于导电粒子检测机,可选10倍物镜,5倍物镜(CMU5X-DIC-FO)。

产品特点 典型应用
产品参数

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