下载中心

解决方案

图形化晶圆缺陷检查方案

发布者: 发布时间:1970-01-01 分享:

硬件:菲涅尔光电远心镜头或者远心线扫镜头,adimec相机,三色同轴点光源,定制版显微镜筒;

难点:1、色差控制,因需要多色光源,分别照射样品。如果色差控制不准,会出现虚焦现象。对机台的一致性有巨大威胁。

          2、提升扫描速度,如何快速发现缺陷,并识别缺陷类型;

方案:通过大靶面远心面阵镜头或者线扫镜头,快速扫描晶圆,确定缺陷位置;再通过高倍显微系统识别缺陷类型,确定样品的OK或者NG

image.png

优势:1、菲涅尔光学提供高倍率大靶面的远心面阵或者远心线扫镜头,优秀的色差控制,可以简化检测流程,实现多光谱检测;2、提供高分辨率,同时有较大视野,实现晶圆快速扫描,发现缺陷位置。3、定制科勒照明显微镜筒搭配高倍显微物镜,轻易的识别缺陷类型。

image.png

菲涅尔光学镜头的色差控制均在12um以内,十分符合三色光源检查或者四色光源检查的条件。优秀的色差控制,使得机台不用二次对焦,降低机台开发难度,提高了检查效率。

image.png

微信图片_20210525174128.png大靶面.jpg


上一篇:PCB板缺陷检查量测

下一篇:SIC,GaN衬底缺陷检测

相关推荐

  • 13188866822
  • 地址:潍坊市高新区高新大厦1319室
    邮箱:kevin0727@fresnel-china.com

©️ 2019—2022 山东菲涅尔光电科技有限公司,远心镜头,线扫镜头 版权所有 网站备案号: 鲁ICP备2024052873号